力调制模式（Force Modulation Mode, FMM）是原子力显微镜（AFM）的一种扩展成像模式，主要用于在获取样品表面形貌的同时，原位、同步地测量其局部力学性质（如刚度或弹性模量）。
工作原理
在接触模式（Contact Mode）下，探针与样品表面保持持续接触。
在探针的垂直方向（即z轴方向）叠加一个小振幅、高频的正弦激励（调制频率通常远高于扫描速度和反馈系统响应速度）。
探针在该调制激励下做垂直微振动，但由于与样品接触，样品会对探针施加反作用力，抑制其振动。
刚性区域对探针振动的阻力更大，导致微悬臂的弯曲幅度变化更明显；而柔性区域则因更容易发生形变，对探针的阻力较小，弯曲幅度变化也较小。
通过检测微悬臂振动的交流分量（AC成分），可反映样品局部的刚度差异；同时保留直流分量（DC成分）用于获取形貌信息。
最终，形貌图与刚度分布图可同步采集、实时成像。