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接触模式是所有原子力显微镜（AFM）技术的基础，在该模式下，探针尖端与样品表面保持持续的物理接触。当尖端沿表面扫描时，样品形貌会引起悬臂的垂直偏转。反馈回路将这种偏转保持在预设的载荷力下，并利用反馈响应生成形貌图像。

接触模式适用于材料科学、生物应用和基础研究。它也是进一步开发需要直接针尖-样品接触的扫描探针显微镜（SPM）技术的基础。