原子力显微镜（AFM）测量粘附力的基本原理是利用探针与样品表面原子间的微弱相互作用力。当探针针尖靠近样品表面时，针尖原子与样品原子之间会产生吸引力或斥力，这种力作为反馈信号维持针尖与样品间作用力恒定，同时针尖在样品表面扫描，描绘出样品表面的高低起伏。测量过程中涉及的关键组件及其作用包括：探针，附着在弹性悬臂上，用于与样品表面相互作用；悬臂，因探针与样品表面的相互作用力而发生微小位移；激光源，发射激光束照射在悬臂背面；光电探测器，接收反射光束并捕捉悬臂的位移变化，将其转换为电信号；反馈系统，根据电信号调整探针与样品间的距离，以保持作用力恒定。
